USE
1.样品表面的结构观察；2.三维形貌测量。
扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
导电性差的样品，观察前需要进行导电处理。
Technical indicators
×5－×300000；
0.5KV－30KV；
小于2英寸；
10nm
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