结构检测
AFM
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用途

USE

原理

通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力,来研究物质的表面结构及性质。

支持

原子力显微镜可提供真正的三维表面图,不需要对样品进行任何特殊处理,且在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。

技术指标

Technical indicators

  • 分辨率

    垂直方向的分辨率可以达到0.01nm,水平方向的分辨率可以达到0.1nm;

  • 工作模式

    多种工作模式,包括接触模式、轻敲模式(振幅调制模式)和非接触模式(频率调制模式);

  • X-Y向噪声水平

    < 0.15 nm。

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